可测量激光光束的强度截面的“光束质量分析仪”

　　光束质量分析仪是一种测量激光光束的强度截面的装置，可以测量激光光束的整个光强截面，不仅能测量光束半径还可以测量得到细节形状。分析激光光束是对其功率或能量测量的一种补充，分析仪提供了非常有用的附加信息，如空间能量或强度分布、光束宽度、质心、椭圆度和方向，这可以帮助您确定您的激光系统是否在最佳状态下运行。分析仪可以用于以下方面：定性给出光束截面可以用于激光的对准，而测量光轴不同位置处的光束半径可以计算M2因子或者光束参量乘积，定性表征光束质量。
 

　　光束质量分析仪采用合适的激光光束诊断方法控制光束质量在很多激光器应用中都很重要，例如，材料加工；例如，如果可以控制光束质量，就可以得到更加一致的钻孔质量。很多分析仪使用于数码相机，在可见光和近红外光谱区域，CMOS和CCD是最常见的。CMOS装置更加便宜，但是CCD具有更好的线性和更低的噪声。CCD和CMOS相机都能得到像素大小的分辨率，因此光束半径可以小到更小。有源区面积的尺寸为几个毫米，因此可以处理非常大的光束。
 

　　有的光束质量分析仪可以采用一个或者多个针孔、狭缝或者刀口来扫描光束截面。任一情况下，一些机械部分(固定在旋转部分上)快速通过光束，而透射功率由一个光电探测器或一些电子装置记录。采用计算机(PC或者内置微处理器)根据测量数据得出光束截面，然后显示在屏幕上。例如，透射功率与刀口位置的关系被分离开来得到光束的一维强度截面，然后移动的狭缝可以直接得到强度截面。